便攜式全自動殘余奧氏體測定儀

• 更新日期：2024-09-23
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便攜式全自動殘余奧氏體測定儀比以往歷代殘余應(yīng)力分析儀更快速、精度更高，提供的數(shù)據(jù)更可靠。 Xstress DR45的檢測速度和準(zhǔn)確性使殘余應(yīng)力測量方面大大超出了實(shí)驗室范圍，并進(jìn)入了生產(chǎn)線。直觀、簡捷的界面的，全新支持軟件與全新技術(shù)相結(jié)合，可提供的工作效率。

主要對各種多晶體材料進(jìn)行殘余應(yīng)力和殘余奧氏體分析和研究，還可作為在靜力強(qiáng)度研究中測量結(jié)構(gòu)及材料任意點(diǎn)變形的應(yīng)力分析儀器。它以計算機(jī)為中央微處理機(jī)，采用高精度探測技術(shù)、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確和可靠，不需要水冷，方便安裝和移動使用，系統(tǒng)超高靈敏度，適合測量的材料范圍廣，配合電解拋光儀可測量不同深度的殘余應(yīng)力，便攜方便，可在實(shí)驗室和野外現(xiàn)場測量。

便攜式全自動殘余奧氏體測定儀主要技術(shù)指標(biāo)：

測角儀
◆ 傾斜和旋轉(zhuǎn)
◆ 改進(jìn)的y幾何（側(cè)傾法）
◆ 對稱安裝的雙探測器
◆ 連續(xù)可調(diào)的2q角范圍：110-170度
◆ 多種準(zhǔn)直器可更換，直徑從Φ1到Φ5，包括特殊小直徑Φ0.5和Φ0.8甚至更小
◆ 全自動校準(zhǔn)，自動調(diào)整測距，行程誤差小于0.003mm

探測器技術(shù)
◆ 固態(tài)位敏正比計數(shù)器（MOS線性成像探測器）
◆ 靈敏度高，信噪比好
◆ 角精度0.029°/像素, 512像素
◆ 簡潔緊湊，無需高壓，功耗1mW
電 源100-240 VAC，50/60Hz
X射線管
微型X射線管，5~30KV/0~10mA/300W可調(diào)，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各種靶材可供選擇，幾分鐘內(nèi)更換完畢。
Stresstech Oy總部設(shè)在芬蘭，是專業(yè)生產(chǎn)便攜式全自動殘余奧氏體測定儀和巴克豪森法（磁彈法）磨削燒傷檢查儀的生產(chǎn)廠。在美國和德國設(shè)有工廠，在各地設(shè)有代理機(jī)構(gòu)。

北京華歐世紀(jì)光電技術(shù)有限公司是芬蘭應(yīng)力技術(shù)有限公司(Stresstech Oy)在中國(包括香港和澳門地區(qū))的授權(quán)總代理商。主要代理各類殘余應(yīng)力分析儀，磨削燒傷檢測儀，齒輪-軸承-曲軸-凸輪軸表面燒傷質(zhì)量檢測儀，便攜式應(yīng)力檢測儀，巴克豪森噪聲法磨削燒傷檢測儀，磁彈儀等無損檢測設(shè)備。用戶主要面向航天、航空，石化、電力，核工業(yè)、3D打印、鍋爐壓力容器，機(jī)械加工與制造，汽車制造，科研機(jī)構(gòu)，高校等。